TESCAN ORSAY, ochranná známka - základní údaje k ochranné známce TESCAN ORSAY, číslo přihlášky 521122, zdroj ÚPV-ČR. Typ: Slovní, datum registrace 2. 9. 2015.
Základní údaje ochranné známky
Zdroj:
ÚPV-ČR
Číslo přihlášky:
521122
Třídy výrobků a služeb:
7,
9,
37,
42
Datum podání přihlášky:
26.3.2015
Datum registrace
2.9.2015
Datum zveřejnění přihlášky:
27.5.2015
Datum priority:
26.3.2015
Země původu:
CZ
Stav dokumentu:
6 - Zapsaná ochranná známka (platný dokument)
Druh:
Slovní
Seznam výrobků a služeb:
7
elektrické přístroje a obráběcí stroje pro výrobu polovodičových součástí, displejů, komponentů pro uložení dat a předmětů pro využití při vědeckém výzkumu, zejména elektronové a iontové tubusy, zejména tubusy s fokusovaným elektronovým svazkem pro elektronovou litografii, elektronovou mikroskopii a... analýzu, tubusy s fokusovaným iontovým svazkem pro iontovou litografii, zobrazování a iontové odprašování, hmotnostní spektrometrii sekundárních iontů, příslušenství pro výše uvedené elektrické přístroje a obráběcí stroje pro výrobu polovodičových součástí, displejů, komponentů pro uložení dat a předmětů pro využití při vědeckém výzkumu, jako jsou nástroje pro přípravu vzorku, zejména nástroje pro přípravu vzorků určených k opracování nebo analyzování některými z výše uvedených přístrojů a obráběcích strojů
9
mikroskopy, zejména elektronové mikroskopy, skenovací elektronové mikroskopy, transmisní elektronové mikroskopy, iontové mikroskopy, ramanovy mikroskopy, mikroskopy atomárních sil, holografické mikroskopy, vědecká zařízení, zejména elektronové zdroje pro mikroskopy, vědecká zařízení v podobě iontový...ch zdrojů pro mikroskopy, zejména iontové zdroje na bázi tekutého kovu a plasmové zdroje, nástroje s iontovým svazkem a elektronovým svazkem, zejména nástroje pro depozici, odprašování, zobrazování, analýzu a měření materiálů v oblasti mikroskopie a nanotechnologií, optická zařízení zejména elektronová litografie, vědecké nástroje, zejména částicové analyzátory a nástroje pro klasifikaci v mineralogii, spektrometrická zařízení a nástroje, zejména hmotnostní spektrometry sekundárních iontů typu na principu doby letu, systémy optické spektrometrie viditelného spektra a rentgenového záření, lasery pro optická zařízení a nástroje, zejména optické hranoly, optické čočky, optická vlákna, optické kabely, optická zrcadla, clony pro vědecká zařízení, měřící zařízení, zejména mikrometrická měřidla, komponenty a uchycení pro všechny výše zmíněné výrobky, zejména elektronové a iontové detektory pro elektronové a iontové systémy, elektronové detektory, detektory sekundárních iontů, detektory zpětně odražených elektronů, rentgenové detektory, katodoluminiscenční detektory, komponenty a uchycení pro všechny výše zmíněné vědecké přístroje, zejména difrakční zařízení a difrakční detektory pro mikroskopy, elektronový násobič, fotonásobič, zesilovače, systémy pro připouštění plynu, nefokusovaná elektronová děla, stolky a nanomanipulátory pro mikroskopy, dekontaminátory, vakuové systémy a vakuometry, software pro navigaci mikroskopického systému, zejména software zlepšující navigaci, funkční schopnosti mikroskopických, analytických, litografických a spektroskopických komponentů zvlášť a/nebo v integrovaných systémech, aplikační software a software operačního systému pro ovládání všech výše uvedených zařízení zvlášť a/nebo v integrovaných systémech, zejména software pro použití v mikroskopickém zobrazování, odprašování, depozici a analýze, software pro zpracování obrazu
37
servis, údržba a opravy mikroskopů, jako jsou zejména elektronové mikroskopy, skenovací elektronové mikroskopy, transmisní elektronové mikroskopy, iontové mikroskopy, ramanovy mikroskopy, mikroskopy atomárních sil, holografické mikroskopy, servis, údržba a opravy vědeckých zařízení, jako jsou zejmén...a elektronové zdroje pro mikroskopy, iontové zdroje pro mikroskopy, jako jsou zejména iontové zdroje na bázi tekutého kovu a plasmové zdroje, servis, údržba a opravy nástrojů s iontovým svazkem a elektronovým svazkem, jako jsou zejména nástroje pro depozici a odebrání vzorku a pro zobrazování, analýzu a měření materiálů v oblasti mikroskopie a nanotechnologií, servis, údržba a opravy optických zařízení pro elektronovou litografii, částicových analyzátorů a nástrojů pro klasifikaci v mineralogii, servis, údržba a opravy spektrometrických zařízení a nástrojů, jako jsou zejména hmotnostní spektrometry sekundárních iontů typu na principu doby letu, systémy optické spektrometrie viditelného spektra a rentgenového záření, servis, údržba a opravy laserů a optických zařízení a nástrojů, jako jsou zejména optické hranoly, optické čočky, optická vlákna, optické kabely, optická zrcadla, servis, údržba a opravy clon pro vědecká zařízení, měřicích zařízení, jako jsou zejména mikrometrická měřidla, servis, údržba a opravy elektronových a iontových detektorů pro elektronové a iontové systémy, elektronových detektorů, detektorů sekundárních iontů, detektorů zpětně odražených elektronů, rentgenových detektorů, katodoluminiscenčních detektorů, servis, údržba a opravy difrakčních zařízení a difrakčních detektorů pro mikroskopy, elektronových násobičů, fotonásobičů, zesilovačů, systémů pro připouštění plynu, nefokusovaných elektronových děl, stolků a nanomanipulátorů pro mikroskopy, dekontaminátory, vakuové systémy a vakuometry
42
návrh, vývoj a výzkum systémů s částicovou optikou, zejména elektronových mikroskopů, skenovacích elektronových mikroskopů, transmisních elektronových mikroskopů, iontových mikroskopů, ramanových mikroskopů, mikroskopů atomárních sil a holografických mikroskopů
